为迅速估算探头的影响,可以使用集总电容探头模型。逻辑分析仪探头厂商对每种探头形状提供了估算的集总电容。在使用等效集总电容时,可以确定时间常数,支持端接电阻或传输线的阻抗。然后可以在系统时间常数的均方根之和中使用这种等效电容。一旦确定整体系统时间常数,可以把其转换成上升时间和带宽,预测探头对系统整体的影响。
图2 标准传输线的电路拓扑结构
探测位置的影响
由于探头是电路的一部分,而电路也是探头的一部分,因此可以预测两个感兴趣的点的影响 (即接收机和探针)。探头的影响中一个主要变量是其在目标传输线上的位置。通过其在传输线上的相对位置,可以确定探头导致的反射。反射影响的严重程度取决于目标系统(即轨迹长度、端接方案、电压余量等)。图2是一个标准传输线系统,其中列明了连接逻辑分析仪探头的最常用位置。
负荷端接系统
在负荷端接系统中,负荷端接电阻器仅用于传输线设计中,引入的反射被吸收到接收机上的端接电阻器。如果这些反射、入射波或后续波同时到达,它们本身会表现为上升时间劣化或码间干扰(ISI),在把逻辑分析仪探头连接到系统上时,探头将表现为电容不连续点。把探头插入这类系统中的最佳位置是信号源。首先,探头反射会即时发生在驱动装置上,然后这种反射会再次反射离开低阻抗驱动装置,并与入射波一起沿着传输线传送。这样收到的波形会经历上升时间劣化,但二次反射最小。其次,为降低电容负荷对系统的影响,探头形成的RC时间常数应尽可能低。虽然探头的电容不可改变,但时间常数的电阻/阻抗取决于探头的位置,时间常数的高速逻辑分析仪探测高速逻辑分析仪探测-技术文章电子技术信息港
